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X荧光测厚仪

X荧光测厚仪
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价格:电议

型号:THICK800A

采购度:157    原产地:中国大陆

发布时间:2024/2/26 15:40:29

产品简介:X荧光测厚仪是业测试金属镀层厚度的仪器,是款无损测试设备,采用X射线原理,产品采用上照式照射方式,对于不规则产品测试效果更好,X荧光测厚仪同时可以测试镀金,镀银,镀铜,镀铑,镀钯,镀镍等。

在线询价咨询电话:13922801651

详细信息
X荧光测厚仪产品简介

X荧光测厚仪是业测试金属镀层厚度的仪器,是款无损测试设备,采用X射线原理,测试速度快速,测试精度高等特点,被广大电镀厂所选用。是款功能强大的仪器,配上门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。Thick-800A X荧光测厚仪是天瑞集多年的经验,门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
 
型号:Thick-800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
X荧光测厚仪温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
 
 
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
 
 
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
 
 
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
X荧光测厚仪主要用于贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业。
 

 

更新时间:2024/7/15 11:29:18

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