产品展示/PRODUCTS SHOW
X光测厚仪EDX 600 PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验,门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等域。
X光测厚仪硬件配置
X光测厚仪采用高分辨率的SDD探测器,分辨率高达140EV进口的大功率高压,让Ag,Sn等镀层的测量能更加稳定。
配备微聚焦的X光管,犹如给发动机增加了涡轮增压,让数据的性更上层楼。
多种准直器可搭配选择:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。贴心打造出适合您的那一款。
X光测厚仪注意事项
开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏;同时,还要注意轻拿轻放(使用镊子等器具取放样品),以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后,仪器都必须先预热30分钟,然后进行初始化,方可进行正常的检测工作。
X光测厚仪测量不同类型的样品时,需从程序栏中选择其对应的选项,才能的测量效果。
为使仪器能保持工作正常,需定期对仪器的各项参数进行测试,并进行调整。
X光测厚仪重点发展光谱仪、色谱仪、质谱仪等分析测试仪器域的研究开发,并使此域的硬件制造和软件开发产生互动,形成整个分析测试仪器的产业集群,促成我国分析测试仪器产业发展、科技成果转化,以便建立的共享公共大平台。
更新时间:2024/12/10 10:50:13
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