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Thick800AX-ray测厚仪检测平面样品
Thick800AX-ray测厚仪检测平面样品
2.半导体硅片电制冷探测器,摒弃元素识别能力较弱的计数盒;
3.内置天瑞仪器研发部研发的—信噪比增强器(SNE)与MCA多道分析器;
4.内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品;
5.脉冲处理器,数据处理快速;
6.手动开关样品腔,操作安方便;
7.三重安保护模式;
9.FP软件,无标准样品时亦可测量。
更新时间:2024/4/22 10:54:11
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